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  • FC 200系列Occhio 歐奇奧 流動池粒度粒形分析儀

    Occhio 歐奇奧 流動池粒度粒形分析儀 FC 200系列,FC200系列進行濕法粒徑測量,粒形分析及計數(顆粒數/毫升)。通過在流動池中的分析,用戶可以測定粒徑及其分布,粒形及其分布及顆粒計數。粒徑范圍覆蓋0.2μm-3mm。粒徑和粒形參數50~80個。計數范圍寬,可對亞微米顆粒和透明顆粒進行計數,無需電解液。為了得到準確的顆粒計數,儀器內置了特殊的泵系統,實現最佳的流速控制。

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    更新日期:2025-05-07
  • GFM 便攜式三維光學缺陷階差測量儀

    GFM 便攜式三維光學缺陷階差測量儀,精確、快速、便攜。

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    更新日期:2025-05-07
  • SIEVECALOcchio 歐奇奧 篩網校準檢測分析儀

    Occhio 歐奇奧 篩網校準檢測分析儀 SIEVECAL,基于圖像分析測量技術,通過全計算機控制的SOP提供篩網表面的一個完整掃描。快速高分辨工業相機,結合遠心鏡頭和平行背光可在篩網旋轉和轉換中獲得圖像。軟件實時計算網孔大小和絲徑粗細。檢測結束后,將檢測報告打印或存儲在電腦中。

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    更新日期:2025-05-07
  • SARTORIUS 精密天平 Practum2102-1CN

    SARTORIUS 賽多利斯 精密天平 Practum2102-1CN(2100g/10mg,外校)確保精度和準確度,讓您物超所值。請不要錯過新型的Practum®天平!它擁有賽多利斯品質與德國開發并設計的技術,確保可實現穩定的讀數和出色的重復性。Practum®具備一切您所需要的標準應用程序。

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    更新日期:2025-05-07
  • SARTORIUS 精密天平 Practum313-1CN

    SARTORIUS 賽多利斯 精密天平 Practum313-1CN(310g/1mg,外校)確保精度和準確度,讓您物超所值。請不要錯過新型的Practum®天平!它擁有賽多利斯品質與德國開發并設計的技術,確保可實現穩定的讀數和出色的重復性。Practum®具備一切您所需要的標準應用程序。

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    更新日期:2025-05-07
  • SARTORIUS 精密天平 Practum5101-1CN

    SARTORIUS 賽多利斯 精密天平 Practum5101-1CN(5100g/0.1g,外校),確保精度和準確度,讓您物超所值。請不要錯過新型的Practum®天平!它擁有賽多利斯品質與德國開發并設計的技術,確保可實現穩定的讀數和出色的重復性。Practum®具備一切您所需要的標準應用程序。

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    更新日期:2025-05-07
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